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日本 SIGMAKOKI 西格玛 反射物镜 OBLR-20A

简要描述:日本 SIGMAKOKI 西格玛 反射物镜 OBLR-20A
反射物镜/OBLR-30A
该物镜由反射镜构成,不受玻璃折射率引起的色差影响,因此可在350nm至7μm的宽波长范围内使用。
它可用于显微光谱和半导体失效分析。

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  • 更新时间:2024-09-09
产品详情

日本 SIGMAKOKI 西格玛 反射物镜 OBLR-20A

OBLR-20A

OBLR-40A

反射物镜/OBLR-30A

该物镜由反射镜构成,不受玻璃折射率引起的色差影响,因此可在350nm至7μm的宽波长范围内使用。

它可用于显微光谱和半导体失效分析。

细节

可以使用安装在主体中央的校正环来改变镜筒长度。

通过这种调节,可以与从80mm到无限远的各种显微镜镜筒一起使用。

反射镜的铝膜上有MgF 2保护膜,可防止反射镜劣化,可长期使用。

物镜安装螺钉采用JIS标准RMS(M20.32 P=0.706),因此可以安装在多种显微镜镜筒上。

由于可见光、紫外光、红外光之间焦点位置和图像尺寸不变,因此可以准确地叠加不可见光图像和可见光图像。



反射物镜/OBLR-10A

该物镜由反射镜构成,不受玻璃折射率引起的色差影响,因此可在350nm至7μm的宽波长范围内使用。

它可用于显微光谱和半导体失效分析。

细节

可以使用安装在主体中央的校正环来改变镜筒长度。

通过这种调节,可以与从80mm到无限远的各种显微镜镜筒一起使用。

反射镜的铝膜上有MgF 2保护膜,可防止反射镜劣化,可长期使用。

物镜安装螺钉采用JIS标准RMS(M20.32 P=0.706),因此可以安装在多种显微镜镜筒上。

由于可见光、紫外光、红外光之间焦点位置和图像尺寸不变,因此可以准确地叠加不可见光图像和可见光图像。



反射物镜 (OBLR)

该物镜由反射镜构成,不受玻璃折射率引起的色差影响,因此可在350nm至7μm的宽波长范围内使用。

它可用于显微光谱和半导体失效分析。

您可以使用安装在主体中心的校正环来改变镜筒长度。通过这种调节,可以与从80mm到无限远的各种显微镜镜筒一起使用。

反射镜的铝膜有MgF 2保护层,可防止镜面劣化并使其能够长期使用。

物镜安装螺丝采用JIS标准RMS(M20.32 P0.706),因此可以安装在许多显微镜镜筒上。

由于可见光、紫外光和红外光之间焦点位置和图像尺寸不变,因此可以精确地叠加不可见光图像和可见光图像。





日本 SIGMAKOKI 西格玛 反射物镜 OBLR-20A

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